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SMT测试专题-解决ICT的受限接触点问题

放大字体  缩小字体 发布日期:2009-12-08  浏览次数:1044

受限节点接触 

前面我们只讨论了所有节点都可以测量的情况,但有时会有多个节点无法接触,比如 V3( 图 4a) 。当无法接触 V3 时,我们只能观测 V1 和 V2 的电压,所见到的是包括 V1 和 V2 在内的对象在平面上产生的“投影”。虽然形状上有些微差异,但 R2 和 R3 仍然是可以区别的 ( 图 4b) 。


 

图 4 :由于接触点受到限制,必须从另一角度来观测失效器件。比如从箭头所指的节点 V1 和 V2 来测量。

假设另有一组节点可以接触,比如 V1 和 V3 ,这相当于从下往上观察图 4b( 图 4c) 。这里因 R2 或 R3 改变产生的电压值是不易区别的,从观测中无法辨别关于出错器件的信息,只能鉴别出整个范围内的正确或出错部份。

测试点选择 

为得到明确的诊断,测试点的选择很重要。在某些情况下,只要有少量器件能被指示出来就是可以接受的;而在另一些情况下,适宜地选择测试点可进一步缩小被测器件组数目。

在任何情况下,所作选择都应该与器件误差容限、器件值,甚至器件类型无关,而应完全根据器件内部连接,即线路拓扑结构。这样就可以判断何处需要增加测试点,或在设计中添加一个器件以省掉一个测试点。

 
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