点击图片查看原图
SIR 13/SIR 13 mini 绝缘劣化特性评价装置（SIR表面绝缘阻抗测试设备）
特性：
能够完成3种测试：离子迁移、绝缘电阻、绝缘特性。
所有通道都备有微电流计、对微电阻进行告诉（40ms/8通道）连续测试，准确扑捉瞬间发生的离子迁移现象（从发生到结束）。
250V测试基板：8通道/1电源 最大128通道；
500V测试基板：1通道/1电源 最大64通道；
1000V测试基板：1通道/1电源 最大64通道；
500V测试基板：1通道/1电源 最大64通道；
1000V测试基板：1通道/1电源 最大64通道；
120V测试基板：每通道都可以设定试验条件（加载电压、电流测定值）。
可以对加载电压和测定电压任意设定，且切换时不会发生漏测定。
拥有小型的SIR13mini，最多可以装配3块SMU测试基板。
主要技术规格：
|
加载电压
|
120V 250V 500V 1000V 直流电压
|
|
测试通道
|
250V为16通道/基板（最多128通道）
120V、500V、1000V为8通道/基板（最多64通道）
|
|
离子迁移测试速度
|
40ms（8通道）
|
